13 TEST(FP16_ALT_FROM_FP32_VALUE, normalized_powers_of_2) {  in TEST()  argument
137 TEST(FP16_ALT_FROM_FP32_VALUE, denormalized_powers_of_2) {  in TEST()  argument
251 TEST(FP16_ALT_FROM_FP32_VALUE, zero) {  in TEST()  argument
275 TEST(FP16_ALT_FROM_FP32_VALUE, infinity) {  in TEST()  argument
299 TEST(FP16_ALT_FROM_FP32_VALUE, positive_nan) {  in TEST()  argument
325 TEST(FP16_ALT_FROM_FP32_VALUE, negative_nan) {  in TEST()  argument
351 TEST(FP16_ALT_FROM_FP32_VALUE, revertible) {  in TEST()  argument
379 TEST(FP16_ALT_FROM_FP32_VALUE, underflow) {  in TEST()  argument
401 TEST(FP16_ALT_FROM_FP32_VALUE, saturation) {  in TEST()  argument
416 TEST(FP16_ALT_FROM_FP32_VALUE, positive_denormalized_values) {  in TEST()  argument
435 TEST(FP16_ALT_FROM_FP32_VALUE, negative_denormalized_values) {  in TEST()  argument
454 TEST(FP16_ALT_FROM_FP32_VALUE, positive_normalized_values) {  in TEST()  argument
477 TEST(FP16_ALT_FROM_FP32_VALUE, negative_normalized_values) {  in TEST()  argument